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地質(zhì)冷熱臺(tái)支持與各類顯微鏡(Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等)、光譜儀(紅外光譜儀、拉曼光譜儀、熒光光譜儀等)等光學(xué)儀器設(shè)備聯(lián)用,進(jìn)行變溫光學(xué)觀察及測(cè)試。可實(shí)現(xiàn)不開蓋情況下對(duì)樣品觀測(cè)區(qū)域進(jìn)行調(diào)節(jié)。
地質(zhì)冷熱臺(tái)可在-190℃~600℃的溫度范圍內(nèi)進(jìn)行控溫,實(shí)現(xiàn)樣品在開放式/氣密/真空環(huán)境下,反/透射的原位變溫光學(xué)觀察及相關(guān)測(cè)試。
產(chǎn)品特點(diǎn):
1)控溫范圍:-190℃~600℃
2)溫度穩(wěn)定性:±0.1℃
3)升降溫速率:0.1~50℃/min
4)支持反射 / 透射光路
5)上位機(jī)軟件控制
6)可按需定制

地質(zhì)冷熱臺(tái)系統(tǒng)實(shí)物圖
技術(shù)參數(shù)表
