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包裹體測試分析系統由地質冷熱臺與光學顯微鏡配套組成；

地質冷熱臺支持與各類顯微鏡（Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等）、光譜儀（紅外光譜儀、拉曼光譜儀、熒光光譜儀等）等光學儀器設備聯用，進行變溫光學觀察及測試。可實現不開蓋情況下對樣品觀測區域進行調節。

地質冷熱臺可在-190℃~600℃的溫度范圍內進行控溫，實現樣品在開放式/氣密/真空環境下，反/透射的原位變溫光學觀察及相關測試。

產品特點：

1）控溫范圍：-190℃~600℃

2）溫度穩定性：±0.1℃

3）升降溫速率：0.1~50℃/min

4）支持反射 / 透射光路

5）上位機軟件控制

6）可按需定制

地質冷熱臺系統實物圖

技術參數表